1.方塊電阻測試儀  型號：HAD-DB1

方塊電阻測試儀HAD-DB1本方阻測試新產品為薄膜測試提供機械、電氣兩方面的保護，在寬廣的量程范圍內，使各種電子薄膜能得到準確、無損的方塊電阻測量結果。

HAD-DB1由于新型薄膜材料種類繁多，研制過程中樣品性能變化較大，而且各種薄膜的機械強度，允許承受的電壓、電均不相同，因此KDB-1型測試儀可為用戶量身定制各種定探針壓力及曲率半徑的探針頭，儀器的測試電分7檔，可由0.4μA增加到大為1000mA，測試電壓可由8V增加到80V，測試電壓和測試電均可連續調節，給薄膜、涂層的研制者提供了個摸索測試條件的寬闊空間。

由于儀器設有恒源開關，并且所有電檔在探針與樣品接觸后均有電延時接通的能，充分保護了樣品表面不會因為探針接觸時產生的電火花而受到損壞。

HAD-DB1儀器性能

方阻測量范圍：1×10-5～2×106Ω/□，小分辨率1×10-5Ω/□；

電阻率測量范圍：1×10-6～2×105Ω·cm或1×10-8～2×103Ω·m，小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m；

探針壓力：25g～250g；

探針曲率半徑：25μm～450μm

（注：探針壓力及曲率半徑可根據薄膜材料性能及用戶需求定制）；

測試電分7檔：1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA；

測試電壓：（1μA～10 mA檔）12～80V連續可調

           （100mA檔）    8～36V連續可調

          （1000mA檔）    8～15V連續可調；

測量方式：手動或自動（配置用測試軟件）；

測量對象：導電薄膜、半導體薄膜、電力電容器鋁箔、各種金屬箔、銀漿涂層、鋰電池隔膜等各種新型電子薄膜；各種半導體材料的電阻率。

2.振動傳感器校準儀          型號；HAD-JX-3B

、能及點

可校準多種類型的振動傳感器，如壓電式加速度傳感器、磁電式速度傳感器及電渦式傳感器。 

可對由上述傳感器所組成的各種振動測試儀表、振動監視系統、數據采集器及振動狀態分析系統行校準。 
  　校準儀內可產生10、20、40、80、160、320、640及1280Hz等八種頻率的正弦信號。 
　　所輸出的加速度、速度及位移三種振動信號的幅值可通過電位器改變，并有數字顯示。 
    可垂直、水平兩個方向使用，以校準垂直、水平傳感器。 
    HAD-JX-3B型振動傳感器校準儀集正弦信號發生器、率放大器、標準傳感器和振動態于身，具有體積小、度、操作簡單、使用方便等點，可在現場和實驗室使用。

二、主要標

　輸出振動信號誤差 ：10、20、40、80、160、320、640、1280Hz±0.3dB±個字 
　輸出頻率度 ：10、20、40、80、160、320、640、1280Hz±0.01%
　輸出振動幅值范圍 ： 
      　大加速度：100m/s2（峰值） 
　　　大速度：170mm/s（有效值） 
　　　大位移：2mm（峰峰值） 
　 大負荷：650g
 　外形尺寸：280mm×180mm×250mm

　       重    量：7kg

3.電子拉力試驗機 拉力試驗機 型號：HAD-ZLD-300A

4.振動校準儀/加速度計校準儀           型號；HAD-JX-1A

、概述
　　HAD-JX-1A校準儀可以方便、準確地對壓電式加速度計和整套系統行標定。該儀器機內產生個頻率為79.6Hz的正弦信號，經放推動振動臺做正弦振動，加速度為10m/s2;也可外接輸入具有定率的正弦信號，推動振動臺在50～2000Hz內振動，作激振器使用。

二、標

　　1、度：優于5%

　　2、失真度：< 1%

　　3、作頻率：79.6Hz±0.5Hz(ω=500)

　　4、內發生器：

　 　　加速度：10m/s²±5%（單峰值）
　 　　速度：20mm/s（單峰值）
　 　　位移：40μm（單峰值）

　　5、外驅動發生器范圍：50～2000Hz

　　6、大負荷：80克

　　7、線圈阻抗：
　 　　驅動線圈：80Ω；  速度線圈：500Ω

　　8、大振幅：±1.5mm

　　9、溫度范圍：10～40℃

　　10、橫向運動：<10%
　　11、電源：220V±10%  耗電約5W
　　12、外形尺寸：200×180×150（mm）
　　13、重量：5公斤

5.電子橡塑拉力試驗機 橡塑拉力試驗機 拉力試驗機 型號：HAD-XSLD

 溫馨提示：以上產品資料和圖片都是按照順序相對應的